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近代仪器分析及其在电真空工业上的应用  CNKI文献

随着科学技术的发展,作为科研的重要工具——理化分析技术,近年来也有很大的发展,特别是一些新仪器的出现,对科研技术工作起了有力的配合和促进作用。电子器件的生产和发展,要求对其材料和工艺进行精细的理化分析,要求...

赵善楷 《电子管技术》 1977年06期 期刊

关键词: 单原子层 / 仪器 / 二次离子质谱仪 / 离子探针

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近代仪器分析及其在电真空工业上的应用  CNKI文献

随着科学技术的发展,作为科研的重要工具——理化分析技术,近年来也有很大的发展,特别是一些新仪器的出现,对科学技术工作起了有力的配合和促进作用。电子器件的生产和发展,要求对其材料和工艺进行精细的理化分析,要求...

赵善楷 《电子技术应用》 1977年05期 期刊

关键词: 衍射线 / 射线衍射分析 / 扫描电子显微镜 / 布拉格公式

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粉敷镍阴极制造工艺及其应用  CNKI文献

(一)前言在毛主席革命路线指引下和群众性的学习无产阶级专政理论的运动推动下,在四机部和厂党委领导与关怀下,敷镍碳酸盐已由试制转入投产。在全国二十多个兄弟单位协助下,我厂制造的敷镍碳酸盐在速调管、磁控管、灯...

《电子管技术》 1975年Z1期 期刊

关键词: 二茂镍 / 双(氯茂基)镍 / 黑白显象管 / 黑白显像管

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IMA离化率补偿曲线及定量深度分析  CNKI文献

近来,IMA中发展了一种高精度定量分析方法,即离化率补偿曲线法。本文以Si(B)样品为例,给出了在低氧区的离化率补偿曲线((K_B)/(K_(Si))-(I_(SiO~+))/((I_(TSiO)))/(I_(Si~+))/(I_(TSi)))并提出一种高精度定量测定表层...

李之仁 《真空科学与技术》 1982年03期 期刊

关键词: 离化率 / 低氧区 / 补偿曲线 / 深度分析

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近代仪器分析及其在电真空工业上的应用(下)  CNKI文献

上一部分介绍的是我们实验室正在使用的仪器,这一部分介绍的两种仪器则是我们没有使用过的,但由于它们具有独特的重要用途,故也在此介绍一下。五、离子探针电子探针出现不久,六十年代中期就开始出现第一台离子探针。顾...

赵善楷 《电子技术应用》 1977年06期 期刊

关键词: 二次离子质谱仪 / 单原子层 / 离子探针 / 分析仪器

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光谱分析粉末法在电真空材料分析中的应用和体会  CNKI文献

简述了应用光谱分析粉末法分析电真空材料镍、钨、铜、氧化铝内杂质时基本分析条件的选择情况。 有五点体会:(一)盐类试样灼烧温度的选择与控制;(二)氧化物粉末园块的制备;(三)激发条件的选择;(四)阴极溅散的利用;(五...

李师鹊 王进学... 《物理学报》 1959年06期 期刊

关键词: 粉末法 / 分析灵敏度 / 下电极 / 激发过程

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电子发射材料的研制——粉敷镍阴极的新工艺  CNKI文献

一九七四年我们按外国采用二茂基镍的方法研制成功粉敷镍阴极(又称 GPG)。它虽然具有良好的发射性能并受到了各有关兄弟厂的欢迎,但是在制作过程中对周围环境有很严重的污染,对操作工人身体也有很大的危害。这是由于采...

孙新 李晓岩... 《电子管技术》 1978年01期 期刊

关键词: 电子发射材料 / 操作工人

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最近的滤质器及其应用——Ⅱ、装置及其应用  CNKI文献

4.装置 4.1 离子源 如式所示,入射滤质器离子的能量分散容许有相当大的另散,因此无需考虑电离室内电位的均匀性。适用于残余气体分析的开放式的电离室正在普及。最近,图16那样的与B—A计构造相同的离子源已实际应用[...

酒井 正 付先莹 《真空》 1980年06期 期刊

关键词: 滤质器 / 装配精度 / 分辨率 / 磁偏转

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SIMS中二次离子离化率补偿法——硅中硼的定量分析  CNKI文献

1.引言二次离子质谱分析法(SIMS)不但灵敏度高,而且可以测定特征元素的深度分布,这是其它类似装置所没有的。目前这种分析法在半导体材料领域里得到了广泛的应用。但是这种分析方法在绝对定量方面存在困难。目前SIMS正...

田村一二三 问田博... 《质谱》 1982年02期 期刊

关键词: 定量分析 / 函数 / 补偿曲线 / SIMS

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