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照明用功率LED的加速寿命试验  CNKI文献

阐述了照明用功率发光二极管(LED)的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验方法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司1 W白光LED和CREE公司1 W蓝光LED的使用寿命进行了评估。

高兆丰 曹耀龙... 《半导体光电》 2009年04期 期刊

关键词: 功率发光二极管 / 加速寿命试验 / 加速系数 / 激活能

下载(329)| 被引(10)

国产半导体器件长期贮存试验研究  CNKI文献

分析了在北方实验室条件下,贮存25年的国产商用高频小功率晶体管的特性与可靠性,通过对10批共1 460只器件的试验、检测,并与25年前的原始数据进行对比分析,发现了贮存器件存在直流放大倍数(HFE)退化、内引线开路、外引...

高兆丰 童亮... 《半导体技术》 2010年08期 期刊

关键词: 长期贮存 / 可靠性 / 失效率 / 可焊性

下载(142)| 被引(6)

耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析  CNKI文献

介绍了耿氏二极管的工作原理及其基本结构,通过外观检查、电特性测试、环境试验、内部目检、X射线及扫描电镜(SEM)检查等失效分析手段和方法,针对耿氏二极管在使用过程中较常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失...

高兆丰 高金环... 《半导体技术》 2008年04期 期刊

关键词: 耿氏二极管 / 可靠性 / 失效模式 / 失效机理

下载(282)| 被引(1)

国产半导体器件长期贮存试验研究  CNKI文献

本文通过对北方实验室条件下贮存25年的国产商用高频小功率晶体管进行研究.找到三种失效模式。考虑到现代技术可消除的因素(或已焊接使用),计算预计80年代的国产商用器件储存失效率水平小于10~(-7)/h。

高兆丰 高金环... 《电子产品可靠性与环境试验》 2009年S1期 期刊

关键词: 长期贮存 / 可靠性 / 失效率 / H_(FE)变化率

下载(41)| 被引(1)

微波单片集成电路的失效分析方法探讨  CNKI文献

随着通信、雷达产业的迅速发展,微波单片集成电路的应用越来越广泛,其可靠性和失效分析工作迫切需要开展和加强。本文通过对微波单片集成电路的特点分析,以一款微波单片混频器为对象开展了失效分析研究,通过显微红外热...

席善斌 高兆丰... 《环境技术》 2017年06期 期刊

关键词: 微波单片电路 / 失效分析 / 显微红外成像 / 电容击穿

下载(81)| 被引(1)

多层共烧氧化铍微波封装工艺水平  CNKI文献

本文描述了用生瓷带制造多层共烧氧化铍元件的工艺过程,讨论了主要工艺过程:瓷带的冲制、丝网印刷,层压,切片及烧结,给出了与生产过程中各工艺步骤有关的图解。提出了一些设计原则,以指导更低成本的生产。工艺水平是根...

T.Kiger 高兆丰... 《半导体情报》 1983年05期 期刊

关键词: 共烧 / 生瓷带 / 层压 / 氧化铍

下载(32)| 被引(0)

功率LED使用寿命评价  CNKI文献

概述了照明用功率LED的发展历程,遵循LED的退化规律和退化系数与结温间满足阿列尼斯方程的关系,提出了一种实用的温度应力加速寿命试验对功率LED寿命进行评价的试验方法,并利用上述方法对CREE公司生产的功率型红光LED...

高金环 彭浩... 《半导体技术》 2009年05期 期刊

关键词: 功率发光二极管 / 加速寿命试验 / 加速系数 / 激活能

下载(419)| 被引(19)

高亮发光二极管寿命评价  CNKI文献

高亮发光二极管广泛应用于户外显示屏、交通灯、汽车灯及电子设备和工业设备指示灯等方面,因其具有体积小、功耗低、寿命长、反映速度快、适合量产等诸多优点,因而使用市场巨大,对其寿命评价尤显意义重大。通过温度应...

闫德立 高金环... 《半导体技术》 2009年10期 期刊

关键词: 发光二极管 / 光通量 / 退化系数 / 加速寿命

下载(240)| 被引(17)

半导体器件的贮存寿命  CNKI文献

从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了三种美国军用半导体器件长期贮存的实例。介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订。

张瑞霞 徐立生... 《半导体技术》 2007年03期 期刊

关键词: 半导体器件 / 失效机理 / 贮存寿命 / 超期复验

下载(392)| 被引(15)

多层陶瓷电容器应用与可靠性研究  CNKI文献

多层陶瓷电容器(MLCC)在使用过程中电参数会发生不同程度的退化甚至超差失效,降低了其可靠性。引起失效的原因可分为损耗性失效、过应力失效、内部缺陷失效以及外部缺陷失效四类。基于日常失效分析工作中遇到的多层陶...

彭浩 席善斌... 《环境技术》 2016年02期 期刊

关键词: 多层陶瓷电容器 / 制造工艺 / 失效分析 / 微观机理

下载(492)| 被引(2)

照明用功率LED的加速寿命试验  CNKI文献

本文概述了照明功率LED的发展历程,阐述了LED的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验万法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司1W白光LED和CREE公司1W蓝光LED的使用寿命进行评估。

高兆丰 曹耀龙... 中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会论文选 2008-11-01 中国会议

关键词: 功率LED / 加速寿命试验 / 加速系数 / 激活能

下载(52)| 被引(0)

多模计数器静电放电损伤的失效分析  CNKI文献

静电放电(ESD)损伤会降低半导体器件和集成电路的可靠性并导致其性能退化。针对一款国产2-32型多模计数器的失效现象,通过分析该计数器的电路结构,利用X射线成像、显微红外热成像、光束感生电阻变化以及钝化层、金属化...

席善斌 裴选... 《半导体技术》 2017年10期 期刊

关键词: 多模计数器 / 单片微波集成电路(MMIC) / 静电放电(ESD) / 失效分析

下载(57)| 被引(1)

耿氏二极管的几种失效模式及其机理分析  CNKI文献

本文通过案例分析,对耿氏二极管经常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了讨论,并根据失效机理指出了避免以上失效应采取的一些措施,对该器件的制造商和使用者有一定的指导意义.

高兆丰 高金环... 2007'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2007-10-01 中国会议

关键词: 耿氏二极管 / 可靠性 / 失效模式 / 失效机理

下载(47)| 被引(0)

半导体器件的贮存寿命  CNKI文献

本文从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了3种美国军用半导体器件长期贮存的实例,介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.

徐立生 高兆丰... 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会论文选 2006-10-01 中国会议

关键词: 半导体器件 / 失效机理 / 贮存寿命 / 超期复验

下载(83)| 被引(0)

国产半导体器件长期贮存试验研究  CNKI文献

本文通过对北方实验室条件下贮存25年的国产商用高频小功率晶体管进行研究.找到三种失效模式。考虑到现代技术可消除的因素(或已焊接使用),计算预计80年代的国产商用器件储存失效率水平小于10~(-7)/h。

高兆丰 高金环... 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2009-10-19 中国会议

关键词: 长期贮存 / 可靠性 / 失效率 / H_(FE)变化率

下载(27)| 被引(0)

加速寿命试验评估功率发光二极管平均寿命  CNKI文献

采用恒定温度应力的加速寿命试验,对XR7090BL-L1-B3-0-0001功率型蓝色发光二极管(LED)的平均寿命进行了评估。参照已有的发光管光功率缓慢退化公式,采用图估法和数值分析法进行试验数据处理,得到了该型号功率发光二极...

黄杰 高金环... 《半导体光电》 2009年05期 期刊

关键词: 发光二极管 / 加速寿命试验 / 平均寿命 / 光通量

下载(309)| 被引(3)

LED光源寿命评估方法探讨  CNKI文献

简要介绍了北美体系(IES)和国际电工协会(IEC)体系中LED光源流明维持寿命评估标准的发展和现状。基于半导体产品可靠性相关知识,对美国照明工程学会2011年发布的IES TM-21-11 LED光源流明维持寿命的推算方法中的数据选...

高金环 张磊... 《半导体技术》 2013年12期 期刊

关键词: LED光源 / 流明维持寿命 / 流明退化率 / 阿列尼斯方程

下载(89)| 被引(4)

温度循环对半导体分立器件气密性影响初探  CNKI文献

本文阐述了影响器件气密性的各种因素和质量一致性检验中所存在的问题,给出了摸底试验条件制定思路,对实验结果进行了分析,最后总结了在检漏工作中的几点建议.

李树杰 李亚红... 第三届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会论文集 2001-04-01 中国会议

关键词: 温度循环 / 气密性

下载(15)| 被引(0)

宇航级晶体管寿命试验  CNKI文献

选取美国宇航级晶体管2N2219AL同批次的4组(分别为A,B,C和D组)样品进行了寿命试验。A组样品在额定功率P CM为800 mW下进行了6 000 h的工作寿命试验;B,C和D组样品分别在试验应力P为1 200,1 400和1 600 mW下,进行了恒定...

张瑞霞 裴选... 《半导体技术》 2013年09期 期刊

关键词: 宇航级晶体管 / 工作寿命 / 长期贮存寿命 / 加速寿命

下载(72)| 被引(1)

金迁移诱致谐波混频器失效分析研究  CNKI文献

对用于某下变频器模块中的HMC264型谐波混频器开展了失效分析研究。结果表明,混频器增益下降、电流增大是由于混频器芯片表面产生金迁移并将相邻金属化条跨接所致。混频器芯片表面产生金属迁移是因为芯片表面有液体聚...

席善斌 高金环... 《环境技术》 2015年06期 期刊

关键词: 金迁移 / 谐波混频器 / 失效分析 / 电子风力

下载(27)| 被引(1)

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