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混合定变长码的测试数据压缩方案  CNKI文献

文章提出了一种混合定变长码的测试数据压缩方案,该方案可以有效压缩芯片测试数据量.此压缩方案将代码字拆分为固定长度的首部和可变长度的尾部两部分.首部固定使解压过程简单,硬件开销小;尾部可变使编码灵活.同时采用...

詹文法 梁华国... 《计算机学报》 2008年10期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 编码 / 内建自测试 / 定长码

下载(249)| 被引(40)

验证平台的可重用性研究  CNKI文献

随着集成电路制造技术的快速发展,系统芯片逐渐成为现实。但系统芯片的发展遇到了一系列挑战,系统芯片的验证问题就是其中之一。验征已成为芯片设计的瓶颈,其大约占整个芯片设计的70%,而且随着集成电路设计规模和...

詹文法 导师:高明伦 合肥工业大学 2004-04-01 硕士论文

关键词: IP / SoC / 重用 / 平台

下载(403)| 被引(34)

一种共游程码的测试数据压缩方案  CNKI文献

提出了一种新的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:共游程码(SRLCS)编码,它在使用较短的代码字来代替较长的游程的传统游程编码基础上,进一步充分利用了相邻游程之间的相关性,使用一位来代替与前一游程相同的整...

詹文法 梁华国... 《计算机研究与发展》 2008年10期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 游程编码 / Golomb码 / FDR码

下载(181)| 被引(33)

一种混合定变长虚拟块游程编码的测试数据压缩方案  CNKI文献

文章提出了一种混合定变长虚拟块游程编码的测试数据压缩方案,该方案将测试向量级联后分块,首先在块内找一位或最大一位表示,再对块内不能一位表示的剩下位进行游程编码,这样减少了游程编码的数据量,从而突破了传统游...

詹文法 梁华国... 《电子学报》 2009年08期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 编码 / 定长码 / 变长码

下载(200)| 被引(28)

利用整数存储无理数的测试数据编码压缩方法  CNKI文献

针对集成电路测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间,不能降低芯片测试成本的情况,提出一种整数存储无理数的测试数据编码压缩方法.首先将测试数据按游程长度划分,默认...

詹文法 梁华国... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2016年09期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 无理数 / 静态编码 / 动态编码

下载(87)| 被引(6)

最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法  CNKI文献

针对长度过长的测试向量之间相容压缩的压缩效果不佳的问题,为了提高测试向量间的相容性,提出了最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法。首先将测试向量按相同的数据块长度划分为若干组,然后提出对分组测试向量进行...

詹文法 赵士钰 《电子测量与仪器学报》 2016年12期 期刊

关键词: 相容压缩 / 测试数据压缩 / 内建自测试 / 编码

下载(73)| 被引(1)

嵌入广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案  CNKI文献

针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案.首先构建有向图,将完全测试集映射到有向图中;其次查找有向图...

詹文法 吴琼... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2017年08期 期刊

关键词: 内建自测试 / 折叠集 / 测试数据压缩 / 外建自测试

下载(80)| 被引(3)

系统芯片外建自测试技术研究  CNKI文献

随着系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)技术的发展,芯片的集成度和复杂性迅速提高,相应地,大规模集成电路测试所需要的测试数据也随之增加,而传统的自动测试设备(automatic test equipment,ATE)的存储量、工作频率以及带...

詹文法 导师:梁华国 合肥工业大学 2009-06-01 博士论文

关键词: 测试数据压缩 / 编码 / 内建自测试 / 外建自测试

下载(289)| 被引(6)

系统芯片验证平台设计  CNKI文献

使用验证平台可以提高验证效率,传统的验证平台是针对特定的待验证模块设计的,不同的设计需要开发不同的验证平台。验证平台的开发既浪费时间,又很难保证验证平台本身100%正确。文中提出了一种系统芯片验证平台开发方...

詹文法 陶芳泽... 《微机发展》 2005年11期 期刊

关键词: 验证平台 / 可重用性 / 待验证模块 / 功能验证

下载(277)| 被引(18)

影响网络学习因素研究  CNKI文献

网络学习已面向中学教学,中学生在网络学习中会受到多方面因素的影响,这些影响因素对中学生的网络学习又会产生不同的学习效果。文中为了了解影响网络学习因素,采用问卷调查的方法,以安庆地区中学生为研究对象,对学生...

詹文法 马俊... 《计算机技术与发展》 2006年09期 期刊

关键词: 网络学习 / 自主学习能力 / 学习条件

下载(451)| 被引(14)

计算机辅助学习软件现状的调研  CNKI文献

计算机辅助学习已经面向中学教学,中学生在计算机辅助学习中受到多方面影响,这些影响因素对中学生的计算机辅助学习产生不同的学习结果,文中为了了解计算机辅助学习软件使用现状,采用问卷调查的方法,以安庆市中学生为...

詹文法 孙秀芳... 《安庆师范学院学报(自然科学版)》 2009年03期 期刊

关键词: 计算机辅助教学 / 计算机辅助学习 / 学习软件 / 学习因素

下载(302)| 被引(8)

一种共前缀码的测试数据压缩方案  CNKI文献

提出了一种新的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:共前缀码编码(SPCS),它在传统游程使用较短的代码字来代替较长的游程的基础上,进一步探讨游程之间的相关性,使用一位来代替具有与前一游程相同前缀的后一游程...

詹文法 梁华国... 《系统仿真学报》 2008年21期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 游程编码 / 硬故障集 / 压缩/解压

下载(130)| 被引(11)

教学网站的设计与实现  CNKI文献

随着网络的发展,将网络应用于教学,开展网络教学已成为大势所趋。本文探讨了教学网站的设计模式,提出了技术上的解决方案,并对具体实现作了阐述。

詹文法 黄玉 《安庆师范学院学报(自然科学版)》 2003年04期 期刊

关键词: 网站 / 服务器 / 工作站

下载(614)| 被引(9)

多位快速加法器的设计  CNKI文献

加法运算在计算机中是最基本的,也是最重要的运算。传统的快速加法器是使用超前进位加法器,但其存在着电路不规整,需要长线驱动等缺点。文章提出了采用二叉树法设计加法器的方法,用该方法实现的加法器,具有电路规整、...

詹文法 马俊... 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 2005年10期 期刊

关键词: 半加器 / 全加器 / 超前进位加法器 / 二叉树法

下载(414)| 被引(9)

一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法  CNKI文献

针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法.该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成...

詹文法 程一飞... 《东南大学学报(自然科学版)》 2018年02期 期刊

关键词: 广义折叠集 / 折叠集 / 测试数据压缩 / 自动测试向量生成

下载(52)| 被引(2)

32位快速乘法器的设计  CNKI文献

高性能乘法器是现代微处理器中的重要部件,乘法器完成一次乘法操作的周期基本上决定了微处理器的主频。传统的乘法器的设计,在最终的乘积项求和时,常采用阵列相加或叠代相加的方法,不适用中小规模的微处理器的设计。该...

詹文法 汪国林... 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 2004年09期 期刊

关键词: 乘法器 / Booth编码 / 超前进位加法器 / Wallace树算法

下载(415)| 被引(5)

一种基于总线的可重用验证平台研究  CNKI文献

提出了一种基于总线的可重用验证平台结构。该结构在传统的模块化和抽象技术的基础上,采用了层次化的片上总线结构,同时引入了参数化的设计方法,使可重用性进一步提高。实验结果表明,使用此方法构建的验证平台,可重用...

詹文法 李丽... 《电子技术应用》 2006年05期 期刊

关键词: 验证平台 / 可重用性 / 待验证模块 / 功能验证

下载(88)| 被引(8)

一种可重用的验证平台结构  CNKI文献

传统的验证方法学已经不能满足SoC验证的需求,现在通常使用验证平台来提高验证的质量。SoC的设计实际上是IP的集成设计,因此需要建立两个验证平台:IP单独验证平台和SoC集成验证平台。为了减少验证时间,提高验证质量,最...

詹文法 马俊... 《微机发展》 2005年03期 期刊

关键词: 验证平台 / 功能验证 / 总线 / 系统芯片

下载(106)| 被引(8)

用于增强现实的平视显示器的设计  CNKI文献

用于增强现实的平视显示器作为航空飞行器的主显仪表 ,较好地解决了飞行员不能同时观察飞行参数和外界环境的矛盾。本文论述了用于增强现实的平视显示器的设计思想和显示器部分的设计方法

詹文法 马俊 《安庆师范学院学报(自然科学版)》 2002年03期 期刊

关键词: 平视显示器 / 增强现实 / 光学设计

下载(232)| 被引(4)

集成电路测试数据减少技术综述  CNKI文献

通过减少测试数据来减少测试成本是集成电路测试领域的热点之一。文章综述了测试数据减少技术,分析了每一种技术的优缺点,指出了该技术的发展需求和方向。

詹文法 程玉胜 《安庆师范学院学报(自然科学版)》 2013年02期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 编码 / 内建自测试 / 测试集紧缩

下载(77)| 被引(0)

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