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DVB-T发射端输出接口的研究与实现  CNKI文献

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苏宗田 导师:丁庆生 电子科技大学 2002-03-01 硕士论文

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SDH设备电接口回损标准及其测试方法  CNKI文献

本文阐述了电接口回波损耗(简称回损)的基本概念,介绍了SDH设备电接口回损的ITU国际标准。在此基础上,推荐了用网络分析仪测试电接口回损指标的方法,并且从理论上分析了该测试方法中应该注意的事项。

石晶 苏宗田 《电信科学》 2005年02期 期刊

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