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古建筑群居民防火减灾行为和信息沟通机制研究  CNKI文献

中国古建筑群由于大量采用木质建构材料,“炉膛结构”的内部建筑风格,紧密的古建筑群规划和狭窄的街道等特点,以及古建筑景区旅游经济价值的过度开发,导致火灾风险较大。统计数据表明古建筑火灾事故大部分是人为因素导...

焦慧芳 导师:刘天卓 中国科学技术大学 2018-03-15 博士论文

关键词: 古建筑群 / 火灾风险 / 防火行为 / 风险沟通

下载(202)| 被引(0)

论企业管理费用的控制问题  CNKI文献

随着企业规模的不断扩大,企业行政管理部门的管理职能日益重要,其费用也相应增加。管理费用的控制已经成为企业成本管理的一项主要内容。但大多数企业缺少对管理费用的有效控制或管理费用控制工作只流于形式,这种局面...

焦慧芳 《会计之友》 2011年32期 期刊

关键词: 企业 / 管理费用 / 控制

下载(2069)| 被引(17)

SOC系统设计技术发展与挑战  CNKI文献

从SOC技术的基本概念和设计流程出发,介绍了SOC设计的关键技术,讨论了SOC在设计方法、工艺实现和性能测试等方面的技术挑战。同时展望了SOC技术的发展趋势,阐述了SiP技术与SOC技术的相关关系及SIP的技术优势。

焦慧芳 贾新章 《电子产品可靠性与环境试验》 2004年02期 期刊

关键词: 系统级芯片 / SiP / IP模块 / 专用集成电路

下载(464)| 被引(11)

自行开发无形资产所得税会计问题研究  CNKI文献

随着我国经济的发展,所得税对经济的调节作用越来越突出。我国企业中,自行开发无形资产的比重显著增加,研发费用占企业总支出的比重也越来越大。文章以所得税会计为基础,结合自行开发无形资产的相关理论,采用理论分析...

焦慧芳 《会计之友》 2013年15期 期刊

关键词: 自行开发无形资产 / 研发费用 / 所得税会计 / 企业所得税法

下载(365)| 被引(3)

CPU技术发展及其可靠性评价研究  CNKI文献

本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高,而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段。面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临...

焦慧芳 温平平... 《微处理机》 2005年04期 期刊

关键词: 老化 / 等比缩小 / 可靠性

下载(354)| 被引(8)

SRAM数据残留现象的机理分析  CNKI文献

通过实验进行了SRAM数据残留机理的研究,建立了数据残留时间与温度的关系。确定了低温下非平衡载流子复合率及扩散速度的降低,是导致SRAM断电后数据残留的主要原因。同时进行了SRAM电参数与数据残留的相关性分析,排除...

焦慧芳 张小波... 《电路与系统学报》 2008年03期 期刊

关键词: SRAM / 数据残留 / 低温 / 载流子复合

下载(106)| 被引(8)

电迁移与工艺相关的关系  CNKI文献

针对金属化电迁移 ,进行了失效机理与工艺相关性的研究 ;确定了金属晶粒尺寸与金属化可靠性之间存在着直接关系 .金属平均晶粒直径与金属电迁移寿命受金属化溅射工艺条件的影响完全一致 .提出了平均晶粒直径作为能够表...

焦慧芳 孔学东... 《半导体学报》 2000年09期 期刊

关键词: 电迁移 / 金属化 / 可靠性 / 数学分析

下载(239)| 被引(4)

基于小波分析的CMOS电路I_(DDT)故障诊断新技术  CNKI文献

对CMOS数字集成电路故障诊断技术的基本方法进行介绍,探讨了基于小波分析的CMOS电路瞬 态电流IDDT故障诊断新技术的基本原理和作用。介绍了该故障诊断新技术的国内外研究动态,展望了其在超 大规模集成电路的故障诊断、...

焦慧芳 贾新章... 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年01期 期刊

关键词: 故障诊断 / 瞬态电流IDDT / 小波分析 / 故障特征参数

下载(104)| 被引(7)

大规模集成电路的高低温测试技术  CNKI文献

介绍了大规模集成电路高低温测试系统的建立,介绍了热流系统的主要技术指标和实用性。重点讨论了集成电路高低温测试系统,实际应用的关键技术及几个应该注意的技术细节。

焦慧芳 贾新章 《电子产品可靠性与环境试验》 2003年05期 期刊

关键词: 高低温测试 / 热流系统 / 温度建立时间

下载(233)| 被引(4)

混合滤波电路可制造性优化设计  CNKI文献

以统计最优化方法为理论指导,利用PSPICE电路模拟软件中的统计优化模块和参数扫描功能,对混合滤波电路进行了针对成品率的可制造性优化设计,提高了该产品的设计成品率,达到了批量生产的要求。同时,从中提升出基于PSPI...

焦慧芳 贾新章... 《固体电子学研究与进展》 2005年02期 期刊

关键词: 成品率 / 优化 / 蒙特卡诺分析 / 可制造性

下载(118)| 被引(3)

基于PSPICE的电路中心值优化设计方法  CNKI文献

介绍了一种基于PSPICE平台的集成电路中心值优化设计方法。重点讨论了如何用PSPICE EDA软件进行集成电路中心值优化设计,探索了进行集成电路中心值优化设计的程序和该方法的实用性。通过混合滤波电路的中心值优化设计...

焦慧芳 贾新章... 《电子产品可靠性与环境试验》 2003年03期 期刊

关键词: 优化设计 / 电子设计自动化软件 / 混合滤波电路

下载(110)| 被引(4)

一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测电路设计  CNKI文献

提出了一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测试新结构,基于此结构设计了2k×8嵌入式静态存储器(SRAM)的内建自测电路,给出了电路的仿真与综合结果。对比分析了这种新结构与传统结构的特性,指出这种新结构具有...

焦慧芳 张小波... 《核电子学与探测技术》 2006年05期 期刊

关键词: LFSR / MARCHC+ / VerilogHDL / SRAM

下载(150)| 被引(2)

VLSI塑料封装失效分析与控制方法研究  CNKI文献

塑封VLSI由于其固有的弱点,在应用过程中封装失效成为其重要的失效模式之一。通过大量的塑封VLSI失效分析实践,针对VLSI塑料封装失效,进行了快速定位技术的研究,总结出一套简化的失效分析程序。同时从引起塑封VLSI封装...

焦慧芳 贾新章... 《固体电子学研究与进展》 2005年04期 期刊

关键词: 塑封超大规模集成电路 / 封装失效 / 失效分析与控制

下载(207)| 被引(1)

静态随机存储器数据残留特性研究  CNKI文献

通常在安全处理系统中,微处理都将密钥储存在静态随机存储器(SRAM)中,如果SRAM的数据在断电后确实完全丢失,那么采取这样的对策是非常安全的,但是SRAM在断电后存在数据残留的问题,是系统的一个重大安全隐患。针对信息...

焦慧芳 张小波... 《固体电子学研究与进展》 2006年04期 期刊

关键词: 静态随机存储器 / 数据残留 / 温度 / 待机电流

下载(80)| 被引(4)

VLSI金属化互连可靠性的快速评价技术  CNKI文献

深入探讨了标准晶片级电迁移加速试验方法 ( SWEAT试验方法 )的试验原理、试验系统的建立、试验步骤及试验结果的分析等 ,并将在实践中总结出的试验经验和技巧介绍给大家。同时将该方法应用到生产实际 ,为工艺可靠性监...

焦慧芳 章晓文... 《固体电子学研究与进展》 2001年01期 期刊

关键词: 晶片级 / 电迁移 / 标准晶片级加速寿命试验 / 参数确定

下载(66)| 被引(4)

语文教学要注重传承中华优秀传统文化  CNKI文献

语文是与人类社会生活联系最紧密的学科,自古以来就是传承中华历史文明和文化的载体。党的十九大报告指出:"建设教育强国是中华民族伟大复兴的基础工程……要全面贯彻党的教育方针,落实立德树人根本任务。"...

焦慧芳 《山西教育(管理)》 2019年07期 期刊

关键词: 中华优秀传统文化 / 阅读量 / 中华传统文化

下载(1)| 被引(0)

通用微处理器等效老化试验方法  CNKI文献

针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对...

焦慧芳 温平平... 《电路与系统学报》 2005年04期 期刊

关键词: 微处理器(CPU) / 等效老化 / 归一化老化电流 / 信号频率

下载(93)| 被引(1)

历山保护区栓皮栎育苗及造林技术  CNKI文献

对历山保护区栓皮栎的培育技术进行了综述,重点介绍了栓皮栎的育苗技术,简要探讨了栓皮栎造林技术,以期为栓皮栎的营造和利用提供技术支撑。

焦慧芳 《安徽农学通报(下半月刊)》 2009年20期 期刊

关键词: 栓皮栎 / 育苗 / 造林 / 历山保护区

下载(76)| 被引(2)

VLSI老化模型参数热阻的研究  CNKI文献

从老化筛选模型入手,阐述了老化模型参数热阻的重要性。基于热阻测量原理,给出了常见的热阻测量方法,同时分析了各测量方法的优缺点。在此基础上提出了一种新颖的封装热阻估计实验方法,虽然不能精确地测量出国产VLSI的...

焦慧芳 温平平... 《核电子学与探测技术》 2005年06期 期刊

关键词: 热阻 / VLSI / 老化模型

下载(85)| 被引(1)

CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究  CNKI文献

CMOS电路瞬态电流(IDDT)测试技术,在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片的集成度和工作速度越来越高,IDDT迅速增长,降低了其性能和可靠性,研究IDDT快速准确计算方法具有较强的应用需求。介绍了...

焦慧芳 陈新军... 《宇航计测技术》 2009年03期 期刊

关键词: CMOS电路+ / 瞬态电流测试 / 仿真 / 解析模型

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