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提高能谱仪定量分析准确度的探讨  CNKI文献

本文就围绕着如何才能把能谱的定量分析结果做的准确这个能谱用户最关心的问题,从电镜、能谱仪和样品这三方面入手展开探讨。文中首先讨论SEM的加速电压、空间分辨力、电子源、光栏和束斑、出射角以及工作距离等;然后...

施明哲 张惠... 《电子产品可靠性与环境试验》 2009年S1期 期刊

关键词: 加速电压 / 过压比 / 出射角 / 工作距离

下载(113)| 被引(3)

电子材料分析中的能谱干扰峰  CNKI文献

主要阐述了在电子元器件分析中用能谱仪作定性分析时常见的一些干扰峰和容易混淆及误判的一些谱峰。主要有和峰、逃逸峰以及一些在元器件材料分析中常遇到的元素特征峰之间的交错重叠的识别和判定方法,并把这些容易误...

施明哲 董本霞 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年04期 期刊

关键词: 能谱仪 / 定性分析 / 特征X射线 / 和峰

下载(115)| 被引(7)

严阵以待——各种地空导弹  CNKI文献

样品类型:这是陶瓷电容器端头生长出来的硫化银。制样方法:没有蒸镀任何导电层。拍摄条件:加速电压10 kV,原始照片放大倍率1 500倍。效果:这是艺术手法与科学技术融入微观世界的一种表现。该照片从上到下、从里到外几...

施明哲 《电子显微学报》 2013年05期 期刊

关键词: 照片

下载(37)| 被引(0)

环形固体背散射探测器的最佳检测距离  CNKI文献

当入射电子与物质相互作用后又能返回表面逸出 ,则这部份原入射电子称为背散射电子。通常以能量小于 5 0eV的电子称为二次电子 ,大于 5 0eV而小于E0 的电子称为背散射电子 ,用背散射电子来扫描成像所获得的图像称为背...

施明哲 马鑫 《电子显微学报》 2003年06期 期刊

关键词: 探测器 / 立体角 / 背散射电子

下载(48)| 被引(0)

ENIG黑焊盘的原因分析及其对焊点质量的影响  CNKI文献

本文利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱分析仪(EDS)以及金相切片等物理分析手段,研究了化镍浸金(ENIG)焊盘润湿不良及焊后发黑的根本原因,即镍层由于遭受浸金药水的过度攻击而产生了严重的氧化腐蚀。镍层的腐蚀不仅...

李晓倩 施明哲... 《电子显微学报》 2014年05期 期刊

关键词: ENIG焊盘 / 焊盘发黑 / 氧化腐蚀 / 焊点质量

下载(99)| 被引(2)

继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究  CNKI文献

本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理。试验中分别用扫描电镜和X射线能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份,再用红外光谱仪验证了触点污染物的来源。根据试验的分析结果,...

李继伟 施明哲... 《电子产品可靠性与环境试验》 2009年S1期 期刊

关键词: 密封继电器 / 触点 / 接触电阻 / 失效

下载(234)| 被引(4)

SEM在电子元器件破坏性物理分析中的应用  CNKI文献

探讨了在电子元器件破坏性物理分析(DPA)中,如何利用扫描电子显微镜(SEM)的高分辨、景深深、放大倍数高和立体感强等一系列技术特点,对微电子器件的互连金属化层异常缺陷进行定位观察、成像和分析的技术。实践证明,SE...

徐爱斌 施明哲 《电子产品可靠性与环境试验》 2006年04期 期刊

关键词: 扫描电子显微镜 / 破坏性物理分析 / 微电子器件 / 互连金属化层

下载(174)| 被引(2)

空调盘管感温线包的失效机理研究  CNKI文献

使用扫描电镜和能谱仪,分析、研究了空调盘管感温线包的失效机理。根据所得的检测结果,它们失效的主要原因是盘管感温线包中的热敏电阻的玻璃外壳与电极引出线之间浸润不良、密封不严,在潮热的环境下,经1 000 h的运行...

袁光华 施明哲 《电子产品可靠性与环境试验》 2013年S1期 期刊

关键词: 能谱仪 / 感温线包 / 热敏电阻 / 银离子

下载(20)| 被引(0)

LE-ACS6启动子在LE-ACS6::GUS转基因拟南芥中的特异性  CNKI文献

通过对不同发育时期LE-ACS6::GUS转基因拟南芥中GUS表达特异性的研究,证明LE-ACS6基因的启动子在拟南芥中也表现启动参与第一系统乙烯合成的关键酶基因的活性。在转基因拟南芥中,LE-ACS6启动子还表现响应外源生长素处...

樊荣 万小荣... 《植物生理与分子生物学学报》 2004年03期 期刊

关键词: LE-ACS6基因 / 启动子 / 生长素 / 伤害

下载(528)| 被引(27)

双向网格铝合金索支撑单层球面网壳结构的弹塑性稳定性分析  CNKI文献

以双向网格铝合金单层球面网壳结构作为研究对象,选取跨度、矢跨比和网格尺寸为参数,应用通用软件ANSYS对40余例结构模型进行了非线性有限元分析。得到了各模型的荷载-位移曲线,讨论了布置与未布置拉索时结构极限稳定...

施明哲 吴明儿 第十五届全国现代结构工程学术研讨会论文集 2015-07-24 中国会议

关键词: 预应力网壳结构 / 数值分析 / 铝合金结构 / 稳定承载力

下载(71)| 被引(2)

提高能谱仪定量分析准确度的探讨  CNKI文献

本文就围绕着如何才能把能谱的定量分析结果做的准确这个能谱用户最关心的同题,从电镜、能谱仪和样品这三方面入手展开探讨。文中首先讨论SEM的加速电压、空间分辨力、电子源、光栏和束斑、出射角以及工作距离等;然后...

施明哲 张惠... 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2009-10-19 中国会议

关键词: 加速电压 / 过压比 / 出射角 / 工作距离

下载(51)| 被引(0)

继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究  CNKI文献

本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理。试验中分别用扫描电镜和X射线能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份,再用红外光谱仪验证了触点污染物的来源。根据试验的分析结果,...

李继伟 施明哲... 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2009-10-19 中国会议

关键词: 密封继电器 / 触点 / 接触电阻 / 失效

下载(123)| 被引(0)

多层金属化结构VLSI芯片的解剖技术——反应离子腐蚀(RIE)及...  CNKI文献

本文介绍了多层金属化结构VLSI芯片的解剖技术——反应离子腐蚀去钝化层法,包括其原理、与其他芯片解剖技术的比较以及各种工艺参数对该技术的影响,并列举了几个实用例子。反应离子腐蚀法实现了芯片表面和内部结构的可...

林晓玲 费庆宇... 第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2005-10-01 中国会议

关键词: 超大规模集成电路 / 失效分析 / 多层金属化 / 反应离子腐蚀

下载(75)| 被引(0)

铝合金材料循环大塑性应变加载下的弹塑性特性  CNKI文献

铝合金材料在建筑结构中的应用越来越广泛,了解其在循环大塑性应变加载下的弹塑性特性,对结构抗震设计具有重要的研究意义。结构在地震荷载下,塑性应变幅值变化幅度大,有必要校核满足全应变范围内的塑性滞回模型。本文...

项平 贾良玖... 第十七届全国现代结构工程学术研讨会论文集 2017-07-21 中国会议

关键词: 铝合金 / 塑性 / Armstrong-Frederick模型 / 标定

下载(71)| 被引(0)

用于ESD失效定位的液晶探测技术  CNKI文献

本文介绍了用于半导体芯片ESD失效定位的向列相液晶探测技术,阐明了该技术在失效分析尤其是在ESD失效分析中的作用和优点,同时给出N沟结型场效应晶体管二个样品管ESD失效定位的应用实例,证实了PN结窗口边缘Si-SiO2界面...

何小琦 施明哲 1998电子产品防护技术研讨会论文集 1998-04-01 中国会议

关键词: 失效定位 / 芯片 / ESD / 液晶

下载(18)| 被引(0)

环形固体背散射探测器的最佳检测距离  CNKI文献

当入射电子与物质相互作用后又能返回表面逸出,则这部份原入射电子称为背散射电子。通常以能量小于5 0eV的电子称为二次电子,大于5 0eV而小于E0 的电子称为背散射电子,用背散射电子来扫描成像所获得的图像称为背散射电...

施明哲 马鑫 第三届全国扫描电子显微学会议论文集 2003-11-01 中国会议

关键词: 探测器 / 背散射电子 / 立体角

下载(9)| 被引(0)

芒秆表皮层的SEM-EDAX研究  CNKI文献

用SEM -EDAX法研究芒秆茎部表皮层的结构及元素组成 ,并对茎部纤维、薄壁细胞及叶部的元素组成进行测定。结果表明 ,芒秆茎杆表皮层的外表面仅由C、O、Si、K等元素组成 ,Si含量高达 6 0 % ,Si的粒度小且分布较均匀 ;表...

邱玉桂 林鹿... 《造纸科学与技术》 2002年01期 期刊

关键词: 芒秆 / 表皮层 / SEM-EDAX法 / 矿质元素

下载(68)| 被引(9)

塑封GaAs MMIC的失效机理及典型案例  CNKI文献

阐述了塑封GaAs MMIC的主要失效模式和失效机理,根据40余例实际案例,得出了其使用中的失效机理分布,并给出几例典型的失效分析案例。

李萍 黄云... 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年06期 期刊

关键词: 微波单片集成电路 / 失效模式 / 失效机理 / 分析案例

下载(135)| 被引(2)

50例微波器件失效分析结果汇总与分析  CNKI文献

对约50例微波器件失效分析结果进行了汇总和分析,阐述了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布。汇总情况表明,由于器件本身质量和可靠性导致的失效约占80%,其余20%是使用不当造成的。在器件本身的质量和可靠...

来萍 李萍... 《固体电子学研究与进展》 2005年04期 期刊

关键词: 微波器件 / 失效分析 / 汇总分析

下载(255)| 被引(0)

反应离子腐蚀及其在VLSI失效分析中的应用  CNKI文献

介绍了多层金属化结构VLSI芯片的解剖技术——反应离子腐蚀去钝化层法,包括其原理、与其它芯片解剖技术的比较以及各种工艺参数对该技术的影响,并列举了几个实用例子。反应离子腐蚀法实现了芯片表面和内部结构的可观察...

林晓玲 费庆宇... 《电子产品可靠性与环境试验》 2006年01期 期刊

关键词: 超大规模集成电路 / 失效分析 / 多层金属化 / 反应离子腐蚀

下载(89)| 被引(3)

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