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计算机编程控制CVD金刚石膜生长系统的研制与应用  CNKI文献

在863“九五”计划期间,我们研制成功“计算机编程控制CVD金刚石膜生长系统”,并用此设备在无人值守的情况下,生长出毫米级金刚石和金刚石/硅碳氮多层膜,证明该设备安全可靠,性能优良。1 计算机编程控制CVD金刚石膜生...

方容川 常超... 《材料导报》 2001年01期 期刊

关键词: 编程控制 / 计算机 / 金刚石膜 / 金刚石厚膜

下载(79)| 被引(5)

多孔硅的形成与发光  CNKI文献

本文综述了有关多孔硅(Porous silicon,简称PS)某些新近的研究成果,包括多孔硅的形成、光致发光和电致发光,着重介绍多孔硅的形成和发光过程的量子尺寸效应。

方容川 李清山... 《发光学报》 1993年02期 期刊

关键词: 多孔硅的形成 / 光致发光 / 量子限制效应

下载(50)| 被引(4)

多孔硅的光致发光和红外吸收光谱研究  CNKI文献

用电化学腐蚀法制备出多孔硅系列样品.室温下具有明亮可见的光致发光.增大电解电流或延长腐蚀时间,发光光谱明显地“蓝移”;提高样品测量温度,发光光谱也明显地“蓝移”。红外吸收光谱表明多孔硅中除了硅丝骨架以外,还...

方容川 李清山... 《发光学报》 1992年04期 期刊

关键词: 光致发光 / 电解电流 / 原子 / 分子

下载(95)| 被引(2)

非晶半导体光致发光的温度依赖关系  CNKI文献

研究了a-Si:H,a-Si:H,F,a-Si:H,Cl以及a-Si:H,Cl,O等非晶硅薄膜光致发光的温度依赖关系。测量了各种样品的无辐射跃迁激活能ε,并试图寻求激活能ε与样品的制备条件和结构之间的关系;同时从发光强度的温度相关性确定了...

方容川 王冠中... 《发光与显示》 1983年04期 期刊

关键词: 光致发光 / 非晶硅 / 温度依赖 / 非晶半导体

下载(50)| 被引(0)

多孔硅的发光  CNKI文献

用电化学腐蚀的方法成功地制备出多孔硅系列样品,这种材料具有室温下肉眼可见的红色发光。波段分布在550-900nm之间的带状光谱,半宽度为0.31eV,峰值波长位于700nm附近。随着测量温度的升高,发光峰位兰移,发光强度随温...

方容川 李清山... 《中国科学技术大学学报》 1992年02期 期刊

关键词: 多孔硅 / 光致发光 / 量子尺寸效应。

下载(16)| 被引(1)

退火的非晶硅薄膜的Raman光谱研究  CNKI文献

用Raman谱方法研究了非晶态硅薄膜退火后的一些特性,进一步证明了超短脉冲激光退火的样品是层状的结晶结构。用Stokes线强度与反Stokes线强度之比测定了晶格的内部温度,与用热偶直接读数相符合。同时,还使用这个方法研...

汪兆平 方容川... 《中国科学技术大学学报》 1983年01期 期刊

关键词: 微米量级 / 谱方法 / 激光束 / 计算方法

下载(249)| 被引(4)

衬底表面覆盖对薄膜成核和生长的影响  CNKI文献

在薄膜生长的成核阶段,稳定聚集体将逐渐覆盖衬底表面.同时,薄膜的生长将发生在被覆盖的衬底部分,而成核则发生在未被覆盖的部分.本文研究了衬底表面被覆盖的程度对薄膜成核和生长的影响,对广泛应用的薄膜理论,...

邵庆益 方容川... 《物理学报》 1999年08期 期刊

关键词: 衬底 / 膜成核 / 基片 / 聚集体

下载(109)| 被引(6)

热厚衬底上薄膜材料热导率测量  CNKI文献

热导率是表征材料热学性能的重要参数之一.为了测量材料的热导率,人们发展了多种测量方法,光热偏转技术便是其中重要的一种.该方法已被成功地用于测量体材料和无衬底的薄膜材料的热导率,但在测量带有衬底的薄膜材料时...

崔景彪 方容川 《科学通报》 1996年03期 期刊

关键词: 薄膜 / 衬底 / 热导率 / 光热偏转

下载(171)| 被引(4)

ZnSe(100)极性表面电子结构研究  CNKI文献

从实验和理论方面研究了闪锌矿结构ZnSe(100)表面电子结构,讨论了ZnSe(100)无再构无弛豫理想表面及其c(2×2)非二聚和二聚再构表面的结构稳定性,从中得到ZnSe(100)非二聚再构表...

班大雁 方容川... 《物理学报》 1997年04期 期刊

关键词: 电子结构 / 局域态密度 / 再构 / ZnSe

下载(129)| 被引(2)

金刚石薄膜生长过程中反应基团的空间分布研究  CNKI文献

在众多金刚石薄膜生长的方法中,热灯丝法是其中重要的一种。为了研究其生长机理,人们使用了多种原位测量反应基团的方法,如质量谱、红外吸收、紫外吸收等,对基团的种类、作用及气相如何转变为固相进行了研究,并得到一...

崔景彪 方容川 《科学通报》 1996年13期 期刊

关键词: 金刚石薄膜 / 反应基团 / 空间分布

下载(48)| 被引(6)

金刚石膜生长过程原位光发射谱研究  CNKI文献

In situ opticaJ eAnssion spectra for an electron assisted hot filament diamond growth process were successfully measured with spatial resolution of better than 1 mm.The ethession lines from atoAnc hy...

崔景彪 方容川 《物理化学学报》 1996年02期 期刊

关键词: 光发射谱 / 反应基团 / 电子增强热打丝CVD

下载(80)| 被引(3)

CdTe(111)表面的稳定性研究  CNKI文献

利用Muffin-Tin轨道线性组合法(LMTO),采用Slab模型,不仅计算了CdTe(111)表面两类模型四种表面的电子结构,给出了总态密度,包括表面态在内的局域及分波态密度,而且与同步辐射实验结果比较分析了这些模型表面结构的稳定...

李永平 方容川... 《物理学报》 1995年05期 期刊

关键词: CdTe / 态密度 / 分波 / 类模型

下载(68)| 被引(2)

Ge/ZnSe(100)异质结能带偏移的同步辐射光电子能谱研究  CNKI文献

利用同步辐射光电子能谱研究了Ge/ZnSe(100)极性界面的能带连接问题.表面灵敏的芯能级谱显示出Ge原子与Se原子在界面处存在较弱的化学反应.利用芯能级技术,测量了该异质结的价带偏移,为176&...

班大雁 方容川... 《物理学报》 1997年03期 期刊

关键词: 价带偏移 / 电子 / 轻子 / 半导体结

下载(53)| 被引(2)

光电倍增管的噪声分析和建模  CNKI文献

着重讨论光电倍增管的噪声来源、不同噪声源的噪声特征。为了便于实际应用,借助于光电子学和电子学分析方法,建立光电倍增管的噪声模型。这有利于应用光电倍增管探测更加微弱的信号,也有利于从微弱信号中提取研究对象...

郭从良 孙金军... 《光学技术》 2003年05期 期刊

关键词: 光电倍增管 / 噪声 / 分析 / 建模

下载(932)| 被引(47)

Si/ZnS极性界面能带偏移的同步辐射光电子能谱研究  CNKI文献

用同步辐射光电子能谱测量了Si/ZnS(111)及(100)异质结的价带偏移ΔEv.对于Si/ZnS(111)及(100)两界面,ΔEv的实验结果均为(19±01)eV,与已有理论预期值相当符...

班大雁 方容川... 《物理学报》 1997年09期 期刊

关键词: 能带偏移 / 异质结 / 半导体结 / 价带偏移

下载(49)| 被引(1)

大学本科毕业论文三阶段训练法  CNKI文献

毕业论文是一个很重要的教学环节,由于种种原因,毕业论文往往受到很大冲击。为了解决这个问题,我们固体光学和材料专业本科生毕业论文工作通过总结以往经验,提出

郭常新 方容川 ... 《教育与现代化》 1992年02期 期刊

关键词: 毕业论文 / 教研室 / 大学本科 / 同学

下载(154)| 被引(0)

多孔硅光致发光的时间效应  CNKI文献

讨论多孔硅制备时阳极化时间、样品在大气中的放置时间对多孔硅室温下光致发光光谱和红外吸收光谱的影响。并用量子线模型对结果进行了讨论。

李清山 方容川 《中国科学技术大学学报》 1993年03期 期刊

关键词: 多孔硅 / 光致发光 / 红外吸收光谱 / 时间效应

下载(16)| 被引(4)

应力和掺杂对Mg:GaN薄膜光致发光光谱影响的研究  CNKI文献

对化学气相沉积 (MOCVD)法在宝石衬底上生长的Mg掺杂GaN薄膜的表面及其GaN缓冲层的光致发光 (PL)光谱进行了测量 ,用Raman光谱和x射线衍射 (XRD)对GaN薄膜中的应力进行确定 ,通过PL光谱中的中性束缚激子跃迁能量的变化...

徐波 余庆选 ... 《物理学报》 2004年01期 期刊

关键词: 光致发光 / 应力 / Raman光谱

下载(432)| 被引(21)

高频溅射法氮碳膜的生长及结构  CNKI文献

本文用扫描电镜、红外吸收光谱、X射线光电子能谱和X射线衍射技术对高频溅射沉积法制备的氮化碳膜的生长过程进行了研究.改变溅射条件,研究了氮化碳膜的形貌和结构与其性质之间的关系,通过溅射条件的优化,可使氮化...

余庆选 方容川 《无机材料学报》 1997年04期 期刊

关键词: 高频溅射 / 氮化碳薄膜 / 生长 / 结构

下载(37)| 被引(1)

近代弱信号检测  CNKI文献

微弱信号检测是长期以来逐渐发展并日益完善的高级光和电子技术,用来检测掩埋在接收机内部噪声中的微弱信号,从而发现研究课题的有用信息。在弱信号测量中,同其他物理测量相比,弱辐射检测是麻烦的。一般说来,常规的辐...

郭从良 方容川 《数据采集与处理》 1989年S1期 期刊

关键词: 信号检测 / 精度 / 辐射测量 / 弱信号

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