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可靠性预计及其准确性  CNKI文献

针对可靠性预计准确性的争论,分析了可靠性预计的方法及标准的数据内涵,指出由于预计手册表征的是不同国家、地区的元器件可靠性水平,根据不同的预计方法(手册)来预计同一设备,因结果不同而得出可靠性预计不准确的结论...

张增照 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年S1期 期刊

关键词: 可靠性预计 / 影响 / 准确性 / 合理性

下载(491)| 被引(9)

可靠性工程技术在用能产品生态设计中的应用  CNKI文献

EuP指令将对全球整个电子信息行业产生革命性的影响,它强调对环境影响的设计,特别是产品最小寿命、MTBF、待机能耗的设计;要保证产品符合生态设计的要求,必须重视产品功耗的控制,对产品最小寿命进行设计、预计、分析、...

张增照 谢少锋... 《电子产品可靠性与环境试验》 2008年02期 期刊

关键词: 可靠性工程技术 / 用能产品 / 生态设计 / 最小寿命

下载(172)| 被引(5)

可靠性预计模型的参数敏感度分析  CNKI文献

利用蒙特卡罗仿真 ,对可靠性预计模型中的主要参数例如温度、电应力、元器件构成比例、环境系数、质量系数等等 ,对设备可靠性预计值的影响程度进行了分析 ;比较了不同手册的参数预计参数敏感度 ;对可靠性设计中应注意...

张增照 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年03期 期刊

关键词: 可靠性预计 / 模型 / 参数 / 敏感度

下载(208)| 被引(4)

全面而正确地认识可靠性预计  CNKI文献

《电子产品可靠性与环境试验》2001年第5期刊登了韩庆田等同志的《可靠性预计及其发展趋向》一文,读后对文中的部分观点有不同看法,今借本期刊一角,浅谈个人的观点,供大家参考。 1 文中某些观点的商榷文中...

张增照 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年06期 期刊

关键词: 可靠性预计 / 可靠性设计 / 防止故障设计 / 国产元器件

下载(153)| 被引(4)

以可靠性为中心 推动工业转型升级  CNKI文献

一、一个电表的故事几年前,一个设计和生产电子式电度表的老板找到我,要我帮他计算一下,他能不能提供产品10年包换的保证。我很感动,感动来自两个方面,一是这个老板很讲诚信,因为10年包换行

张增照 《中国质量》 2011年03期 期刊

关键词: 工业转型升级 / 产品出厂 / 可靠性管理 / 全面质量管理

下载(43)| 被引(2)

汽车电压调节器的性能可靠性计算机仿真  CNKI文献

利用系统性能可靠性仿真,对汽车电压调节器的设计及性能进行分析,找出了对其性能可靠性影响最大的元器件,以及对环境温度敏感的元器件;通过提高元器件精度和改善半导体器件的温度特性,对初始设计进行了改进,提高了汽车...

张增照 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年04期 期刊

关键词: 汽车电压调节器 / 可靠性 / 仿真 / 温度特性

下载(133)| 被引(0)

电容器的可靠性与电容量间的相关规律  CNKI文献

广泛地收集了国产固体钽电解和Ⅰ类瓷介等电容器在多种环境下的现场失效率数据,分析得出现场失效率与电容量的回归方程式。发现国产固体钽电解电容器随着容量增大其失效率增大的“速率”过大。进一步分析表明,这种偏离...

张增照 杨家铿 《电子产品可靠性与环境试验》 1995年06期 期刊

关键词: 失效率 / 固体钽 / 电容量 / 赋能

下载(82)| 被引(0)

晶体管电流增益随时间漂移的计算机仿真试验  CNKI文献

本文研究了晶体管电流增益漂移的统计规律。获得了对其均值和方差的预测方法,利用Monte-Carlo仿真对实际产品在寿命试验中的失效进行了预测,与实际试验进行对比,获得令人满意的结果。

张增照 莫郁薇... 《电子产品可靠性与环境试验》 1998年04期 期刊

关键词: 电流增益 / 正态分布 / Gauss / 分布

下载(31)| 被引(0)

数控式PTC老练仪的研制  CNKI文献

本文讨论了设计PTC热敏电阻老练设备应解决的关键问题.并介绍了数控式PTC老练仪的工作原理,给出了保险参数的经验公式.

张增照 雷鸣... 《电子产品可靠性与环境试验》 1995年01期 期刊

关键词: PTC热敏电阻 / 老练筛选 / 数控式 / 早期失效

下载(18)| 被引(0)

数控式PTC老化仪研制成功  CNKI文献

PTC元件在家电中应用日益广泛,有长足的发展。而有些PTC元件在应用中也暴露了易老化的缺点,如使用功率下降,耐电压降低,PTC特性改变等。数控式PTC老化仪可对PTC元件预老化,剔除低质有隐患的产品,提高可靠性,保证产品的...

张增照 江涛 《家用电器科技》 1993年06期 期刊

关键词: 预老化 / 元件老化 / PTC / 提高可靠性

下载(18)| 被引(0)

质量可靠性整体解决在机械装备领域的实践  CNKI文献

介绍了质量可靠性整体解决(TSQ)的概念、关键流程、技术模块和应用情况等内容。论述了质量可靠性整体解决技术在机械装备领域中的具体实施过程和效果。

范忠辉 张增照... 《电子产品可靠性与环境试验》 2017年05期 期刊

关键词: 可靠性 / 质量可靠性整体解决 / 机械装备

下载(90)| 被引(2)

可靠性预计技术的发展研究  CNKI文献

本文在跟踪研究国内、外可靠性预计技术发展动态的基础上,分析比较了美国MIL-HDBK-217系列和我国GJB/Z299手册的发展情况;论述了考虑早期失效、试验与现场数据、环境应力筛选等因素的预计法及各方法的代表模型;...

莫郁薇 张增照... 《电子产品可靠性与环境试验》 1998年02期 期刊

关键词: 可靠性预计 / 元器件 / 预计模型 / 现场数据

下载(246)| 被引(5)

多芯片组件MCM的失效率预计研究  CNKI文献

通过对多芯片组件(MCM)的结构、失效模式和机理的分析,提出了适合我国生产实际的MCM 失效率预计模型。采用加速寿命试验和点估计法获得了膜电阻的基本失效率λRT和布线与工艺基本失效率λC;并采用极限应力对比试验获得...

莫郁薇 张增照... 《半导体技术》 2006年03期 期刊

关键词: 多芯片组件 / 可靠性预计 / 失效率 / 加速寿命

下载(168)| 被引(1)

光纤连接器可靠性预计模型研究  CNKI文献

在分析光纤连接器的主要失效模式及其影响程度和国内外有关资料、数据的基础上,提出了光纤连接器的失效率预计模型。以大量光纤连接器的现场数据为基础,获得光纤连接器的基本失效率和GF、GF2环境下的环境系数;利用光纤...

张增照 聂国健... 第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2005-10-01 中国会议

关键词: 光纤连接器 / 预计模型 / 失效率 / 耐久性

下载(108)| 被引(3)

测量仪器可靠性分析技术应用探讨  CNKI文献

JJF1024-2006《计量仪器的可靠性分析》的实施,对于在产品研制前就提出明确的可靠性要求,并在产品的设计、生产、检测过程中进行严格的监督控制,从而提高测量器具的可靠性有重要作用,本文指出了实际操作中,例如可靠性...

张增照 谢少锋... 2010中国仪器仪表学术、产业大会(论文集1) 2010-11-10 中国会议

关键词: 可靠性 / 模型 / 预计 / FTA

下载(137)| 被引(0)

砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究  CNKI文献

在对微波单片集成电路(MMIC)的失效模式和失效机理进行分析的基础上,提出了砷化镓微波单片集成电路(GaAs MMIC)的可靠性预计数学模型,并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT。在大量统计工艺...

王蕴辉 莫郁薇... 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年02期 期刊

关键词: 微波单片集成电路 / 可靠性预计 / 寿命试验

下载(274)| 被引(4)

GaAs MMIC可靠性研究与进展  CNKI文献

介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状 ,给出了GaAs器件的几种失效模式和失效机理

吴海东 庄志强... 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年01期 期刊

关键词: 砷化镓器件 / 单片微波集成电路 / 可靠性 / 失效

下载(215)| 被引(8)

电子元器件可靠性技术在反坦克导弹武器系统中的应用  CNKI文献

讨论了电子元器件在反坦克导弹武器系 统中选择 与使用时存 在的主要 可靠性问题 及其解决方 法, :包 括 环境 应力 筛 选、 禁用 元 器件 、贮 存 期、 静 电防 护、 热 设计 等问 题 ,为 相关 设 计人 员提 ...

韩少华 寇烈... 《电子产品可靠性与环境试验》 2004年04期 期刊

关键词: 电子元器件 / 可靠性技术 / 反坦克导弹 / 应用

下载(214)| 被引(5)

行波管可靠性失效率模型的研究  CNKI文献

本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础,根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法,参照美国军标MIL-HDBK-217E,F,结合我国具体实际,对行波管失效率的数学模型,采用...

苏振华 杨家铿... 《真空电子技术》 1997年06期 期刊

关键词: 失效机理 / 失效率 / 可靠性预计 / 平均寿命

下载(110)| 被引(8)

MCM-C中厚膜电阻的寿命分布及退化规律的研究  CNKI文献

重点研究了MCM—C基板的可靠性,包括厚膜电阻、基板布线以及互连通孔。试验采取加温度应力与电应力的双应力加速寿命试验。试验中发现,厚膜电阻的退化先于基本布线和互连通孔,故厚膜电阻的退化在MCM—C基板可靠性中起...

周仲蓉 郭春生... 《电子产品可靠性与环境试验》 2003年05期 期刊

关键词: 多芯片组件 / 厚膜电阻 / 寿命分布

下载(162)| 被引(4)

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